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Überlegungen zu Gate-Treiber-Messungen

Dieser Inhalt wurde von Rohde & Schwarz veröffentlicht

Einer der Hauptzwecke eines Gate-Treibers ist es, das Ein- und Ausschalten von Leistungsschaltern zu beschleunigen und damit die Anstiegs- und Abfallzeiten zu verbessern. Schnelleres Schalten ermöglicht einen höheren Wirkungsgrad und eine höhere Leistungsdichte, wodurch die mit hohen Anstiegsraten verbundenen Verluste in der Leistungsstufe reduziert werden. Mit zunehmender Anstiegsgeschwindigkeit steigt jedoch auch die Mess- und Charakterisierungsunsicherheit.

Der Trend zu Leistungsdesigns auf Siliziumbasis gegenüber Leistungsdesigns mit großer Bandlücke macht die Messung und Charakterisierung zu einer größeren Herausforderung. Hohe Anstiegsraten in SiC- und GaN-Bauelementen bergen für Entwickler Gefahren wie große Überschwinger und Klingeln sowie potenziell große unerwünschte Spannungstransienten, die zu Fehlschaltungen der MOSFETs führen können.

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